8英寸手動探針臺是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。
使用方式：
1、將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
2、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
3、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。
4、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰，帶測點在顯微鏡視場中心。
5、待測點位置確認好后，再調(diào)節(jié)探針座的位置，將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊，再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕，慢慢的將探針移至被測點，此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進行下針，最后則使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。
6、確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設備開始測試。
8英寸手動探針臺用途：
以往如果需要測試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態(tài)，研發(fā)人員一般會采用萬用電表的表筆去點測。隨著電子技術的不斷發(fā)展，對于精密微小（納米級）的微電子器件（如IC、wafer、Chip、LCDArray、CMOSCameraModule、Pitch微小的Connector），萬用表點到被測位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應運而生，利用高精度微探針將被測原件的內(nèi)部訊號引導出來，便于其電性測試設備（不屬于本機器）對此測試、分析。
