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高功率脈沖PIV測試系統(tǒng)，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級測量和建模軟件支持多種負載牽引技術(shù)，包括使用外部儀器的傳統(tǒng)負載牽引、基于VNA的負載牽引、主動負載牽引和混合負載牽。

SPAD光學傳感器測試設(shè)備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應(yīng)用在移動設(shè)備上，這些先進光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對先進光傳感器的光感測性能要求卻越來越高。 在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準檢測的挑戰(zhàn)。 我們采用與從不同的光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標準的測試方式，與各種先進探針臺形成完整的微米級光感測器全光譜量子效率測試解決方案。