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SPAD光學(xué)傳感器測試設(shè)備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應(yīng)用在移動設(shè)備上，這些先進光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對先進光傳感器的光感測性能要求卻越來越高。 在感光面積微縮的過程中，也帶來量子效率精準檢測的挑戰(zhàn)。 我們采用與從不同的光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標準的測試方式，與各種先進探針臺形成完整的微米級光感測器全光譜量子效率測試解決方案。