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ESD測試機的原理及應(yīng)用芯片ESD測試儀是保障電子設(shè)備穩(wěn)定運行的關(guān)鍵 ESD測試設(shè)備是靜電放電抗擾度與電磁輻射抗擾度測試的利器 ESD測試設(shè)備是什么原理 ESD測試介紹該如何進行ESD測試設(shè)備的試驗？

詳細介紹

ESD（靜電放電）測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC

TLP 測試機

l 用于獲取器件保護電路的相關(guān)參數(shù)特性

l 為器件升級提供支持，縮短產(chǎn)品周期

l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。

l 具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產(chǎn)率。

l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出型號（T5000-HC）。

HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

TLP 測試機產(chǎn)品系列

此設(shè)備是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設(shè)備

對集成電路里保護電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助

也可進行VF-TLP測試

產(chǎn)品名/型號	設(shè)備說明	設(shè)備介紹視頻
HED-T5000/ HED-T5000VF	此設(shè)備配備了先進的測試模式具備印加脈沖寬度為100ns/200ns的normal TLP測試與寬度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)測試模式有助于驗證HBM/CDM模式的測試對于器件管腳的入射波和器件管腳發(fā)出的反射波，都可在示波器上確認到此數(shù)據(jù)會自動保存，并在專用的顯示軟件上表示專用顯示軟件可對入射波/反射波的合計值，snapback特性以及漏電流測試的電流值進行圖形描繪被保存的示波器上的數(shù)據(jù)可以進行高自由度的演算處理比如，對于不同工藝的晶體管的ON電壓及可以加在保護電路上的最大電流值等，可以通過曲線的重疊描繪來確認其差異并且可以與半自動探針臺連接，實現(xiàn)TLP測試的自動化由于可以在Wafer level上進行印加管腳間或芯片間的自動移位，所以能夠很大地提升測試效率
HED-T5000-HC	目前，對于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在本設(shè)備上得以實現(xiàn)、并有助于高耐壓元件工作參數(shù)的取得及分析