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簡(jiǎn)要描述:ESD測(cè)試設(shè)備,芯片ESD(靜電放電)測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測(cè)試機(jī)
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
產(chǎn)品名/型號(hào) | 設(shè)備說(shuō)明 | 設(shè)備介紹 |
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HED-G5000 | 全自動(dòng)靜電破壞裝置的高性能版本出現(xiàn)了測(cè)試符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)是可能的。 | |
HED-S5000R-D | 全自動(dòng)靜電放電設(shè)備的傳統(tǒng)機(jī)臺(tái)此設(shè)備是符合日本及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 | click |
HED-S5000R | 銷售實(shí)績(jī).1可以通過(guò)連接曲線圖示儀來(lái)輕松地判斷pass/fail | |
HED-N5000-DCPC | 多管腳高性能全自動(dòng)靜電放電測(cè)試機(jī)最大可進(jìn)行8個(gè)器件的測(cè)試。最大測(cè)試管腳數(shù)1024Pin | click |
HCE-5000 | 桌上型ESD測(cè)試儀測(cè)試操作簡(jiǎn)單的便攜式靜電放電測(cè)試設(shè)備 | click |
HPE-5000 | 便攜式ESD測(cè)試儀本設(shè)備是測(cè)試半導(dǎo)體器件的靜電破壞強(qiáng)度的設(shè)備 |
HANWA ESD測(cè)試全部設(shè)備簡(jiǎn)介
HANWA ESD測(cè)試全部設(shè)備簡(jiǎn)介
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