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簡(jiǎn)要描述：掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進(jìn)分析功能的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產(chǎn)品將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)緊密地結(jié)合在一起。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-11-07訪 問(wèn) 量：982產(chǎn)品分類
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掃描電鏡擁有高品質(zhì)成像和先進(jìn)分析功能的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列
Sigma 系列產(chǎn)品將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)緊密地結(jié)合在一起。
掃描電鏡利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程，可輕松實(shí)現(xiàn)構(gòu)建成像和分析程序，提高工 作效率。您可以在更短的時(shí)間內(nèi)采集到更多數(shù)據(jù)。Sigma 可以搭載多種探測(cè)器， 以滿足不同應(yīng)用需求：顆粒物、表面結(jié)構(gòu)、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層及多層膜等樣品成像。
Sigma 300 具有非常高的性價(jià)比；
Sigma 500 因其出色的 EDS 幾何學(xué)設(shè)計(jì)，擁有出眾的分析性能。
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在單個(gè)探測(cè)器中獲取形貌和成分襯度信息。使用 aBSD 在 5 kV 和高真空條件下對(duì)太陽(yáng)能電池成像，左：成分襯度模式，右： 形貌模式。 | 高效直觀的 Sigma 4 步工作流程。 | 先進(jìn)的 EDS 幾何學(xué)設(shè)計(jì)加速了 X 射線的分析。 |
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