全自動芯片ESD測試設(shè)備

簡要描述：Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設(shè)備
近年來，自動駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前先進技術(shù)，解決自動駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運行中的安全。目前國內(nèi)尚未有關(guān)于汽車芯片可靠性的標準，而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試，其中一環(huán)節(jié)就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關(guān)測試。

產(chǎn)品型號：HED-G5000
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-11-07
訪問量：2151

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失效分析設(shè)備

封裝工藝檢測設(shè)備 ESD測試設(shè)備

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詳細介紹

日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機、HANWA ESD測試機

全自動芯片ESD測試設(shè)備產(chǎn)品概要：

HANWA新一代G5000系列ESD 全自動靜電破壞檢測機已上市，搭載多Pin腳無繼電器的GND模組（最高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實現(xiàn)高精度檢測。此設(shè)備是符合日本及國際標準的高可靠性設(shè)備（滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標準，車規(guī)級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試。

技術(shù)優(yōu)勢：

1、適應(yīng)以下國際標準波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過其原始機械設(shè)計實現(xiàn)。
3、短路最大限度地減少電感和電容對數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

全自動芯片ESD測試設(shè)備主要應(yīng)用：

芯片靜電破壞自動測定裝置。