Test System Integration
傳輸線脈沖發(fā)生器TLP測(cè)試系統(tǒng)
TLP的用途 TLP是指?jìng)鬏斁€脈沖。當(dāng)同軸電纜中的電荷放電時(shí)，會(huì)產(chǎn)生矩形波形。我們可以利用這種現(xiàn)象來(lái)檢查半導(dǎo)體的保護(hù)電路特性。重要因素是矩形波形的上升時(shí)間。保護(hù)電路特性取決于矩形波形的上升時(shí)間較快或較慢。因此，將上升時(shí)間從高頻更改為低頻非常重要。TLP測(cè)試儀需要小于200 [ps]的上升時(shí)間作為理想波形。
系統(tǒng)簡(jiǎn)介：
公司提供半導(dǎo)體設(shè)備所需的ESD（靜電擊穿）測(cè)試系統(tǒng)解決方案。現(xiàn)在我們帶你簡(jiǎn)單了解下TLP測(cè)試。TLP（傳輸線脈沖）測(cè)量是向晶體管或集成電路施加脈沖，并獲取有關(guān)ESD保護(hù)元件或ESD保護(hù)電路的電壓（V）/電流（I）特性的數(shù)據(jù)。在集成電路的ESD保護(hù)設(shè)計(jì)中，了解具有短時(shí)間常數(shù)（例如ESD浪涌）的脈沖波，被保護(hù)元件或被保護(hù)元件可以承受的IV特性以及多少電流。那很重要。即使正常的直流測(cè)量導(dǎo)致熱破壞，使用TLP器件進(jìn)行測(cè)量也不太可能引起熱破壞，并且有可能確認(rèn)和獲取大電流區(qū)域（?10A）的特性。此外，通過(guò)在實(shí)際集成電路中使用TLP測(cè)量，它不僅可以用作ESD保護(hù)設(shè)計(jì)，還可以用作由ESD引起的缺陷的分析工具。
TLP（傳輸線脈沖）檢測(cè)儀可以得到半導(dǎo)體中保護(hù)電路的活度參數(shù)。為了提高ESD耐壓性能，需要分析保護(hù)電路。測(cè)試結(jié)果中包含了許多有用的信息，節(jié)省了半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)過(guò)程的時(shí)間。 > 用于獲取器件保護(hù)電路的相關(guān)參數(shù)特性 |
主要訂購(gòu)系統(tǒng)： HED-T5000 TLP靜電測(cè)試儀 ， TS200/TS300 等手動(dòng)探針臺(tái) |
