Test System Integration
mmW/Thz 晶圓級測試系統(tǒng)
毫米波以及太赫茲在光線穿透領(lǐng)域具有大范圍非常規(guī)頻段，高帶寬，基于短波長的高分辨圖像技術(shù)等特征得到廣泛的技術(shù)使用。這些RF 的應用已經(jīng)滲透到各個領(lǐng)域。但是要想獲得高精度，高重復性和穩(wěn)定性的晶圓級RF 測試方案仍然具有很大的挑戰(zhàn)。芯測的晶圓級RF在片測試系統(tǒng)，使用國產(chǎn)網(wǎng)絡分析儀以及業(yè)界領(lǐng)先的高性價比國產(chǎn)GP200-THz射頻探針臺配合芯測軟件進行操作。可以自動校準、根據(jù)待測器件特性進行參數(shù)提取。
眾所周知，RF 最重要的兩個參數(shù)是相位和幅度，毫米波和太赫茲判斷的波長非常小，它們尺度甚至可以達到儀表和連接接頭尺寸。如此高的頻率以至于每秒有上百億個波形通過器件電極和探針的表面，任意一些輕微的變化都可能導致相位和幅度發(fā)生很大的改變，影響測試精度。另外，為了滿足不同的測試需求，每一種RF 線纜和接頭以及探針都有他們獨特的電學參數(shù)規(guī)格（如最大頻率，阻抗，電介質(zhì)常數(shù)，插損，波速，延時等）和機械參數(shù)（如外導體直徑，質(zhì)量，最小彎曲率，操作溫度范圍等）
以上所有，都是系統(tǒng)搭建需要考慮的重要因素，為此工程師們不得不花費大量的時間和精力去掌握測試儀表和探針臺的軟件和硬件，線纜知識甚至基本的電磁場理論。工程師在處理多個供應商以建立滿足他們需求的解決方案時，工程師將會能會面臨挑戰(zhàn)。
特點與優(yōu)勢：
晶圓級 RF 射頻測試解決方案。是芯測成熟的系統(tǒng)集成方案，不僅能加速產(chǎn)品研發(fā)，并且能在最短的時間內(nèi)讓客戶進行自動化測試，縮短產(chǎn)品上市和收益周期，節(jié)約客戶成本，增加收益。
在片RF 器件集成方案的表征頻率高達1.1THz
專業(yè)的隔震方案，確保測試過程中穩(wěn)定的探針接觸，從而搭建出高精度測試系統(tǒng)
1um 的接觸\分離精度動確保極高的測試重復精度
對于不同的應用需求，提供多種探針進行選型，比如Infinite 探針，|Z|探針，ACP 探針和 FPC
模塊化設計的控制軟件確保高效的測試和定制化服務
可實現(xiàn)多種射頻項目自動測試：S 參數(shù)測量、偏壓下的S 參數(shù)測量、增益壓縮測量、噪聲系數(shù)測量、交調(diào)失真測量、三階交調(diào)測量等
集成世界最領(lǐng)先的測試儀和探針臺， 控制及服務更加專業(yè)
人性化設計，友好界面，操作簡單
縮短產(chǎn)品開發(fā)到量產(chǎn)時間，保護您的投資
輕松實現(xiàn)復雜應用，快速完成測試
模塊化平臺設計，容易升級。并可根據(jù)客戶需求量身定制
支持所有可編程設備輕松接入，可集成儀表覆蓋面廣
