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晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡

簡要描述:晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡進料的wafer,經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查,進行檢查和分選。操作員不接觸wafer,避免了污染和損傷wafer。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-07
  • 訪  問  量:1590

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晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡


進料的wafer,經(jīng)過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查,進行檢查和分選。操作員不接觸wafer,避免了污染和損傷wafer。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡性能描述:

標準配備1個Load port,單臂翻轉(zhuǎn)Robot,Pre-aligner,目檢臺和顯微鏡。

兼容8寸和12寸wafer。

標準load port可以對應FOUP,AutoFOSB自動開蓋,具備mapping功能。

高精度運動機構(gòu),低噪音,低塵,無需供油。

觸摸屏操作,界面友好。

晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡對應GEM300,采用SEMI標準軟件。

公司為您提供全自動晶圓2D/3D AOI光學檢驗機的參數(shù)、價格、型號、原理等信息,全自動晶圓2D/3D AOI光學檢驗機產(chǎn)地為日本、品牌為--,型號為GBIT-WA-100,價格為面議,更多相關信息可咨詢,公司客服電話7*24小時為您服務。

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