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在半導(dǎo)體行業(yè)飛速發(fā)展的今天，芯片設(shè)計(jì)越來(lái)越復(fù)雜，測(cè)試難度也隨之增加。高功率探針臺(tái)作為集成電路生產(chǎn)線(xiàn)上關(guān)鍵的一環(huán)，承擔(dān)著驗(yàn)證產(chǎn)品電氣特性的...

在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，確保器件的可靠性和性能至關(guān)重要。TLP傳輸線(xiàn)脈沖測(cè)試儀憑借其優(yōu)勢(shì)，成為半導(dǎo)體制造過(guò)程中的重要工具，在多個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)發(fā)揮著...

在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，靜電放電（ESD）是一種潛在的風(fēng)險(xiǎn)，可能對(duì)晶圓、設(shè)備和人員安全造成嚴(yán)重影響。晶圓ESD測(cè)試機(jī)作為測(cè)試和驗(yàn)證半導(dǎo)體器件...

大功率探針臺(tái)是半導(dǎo)體、集成電路、光電器件測(cè)試領(lǐng)域中一種專(zhuān)門(mén)用于承載和測(cè)試大電流、高電壓器件的專(zhuān)業(yè)設(shè)備。它的設(shè)計(jì)目的是為了能夠在不破壞待測(cè)...

芯片ESD測(cè)試設(shè)備通過(guò)模擬靜電放電過(guò)程，對(duì)芯片的抗靜電能力進(jìn)行全面測(cè)試。這些設(shè)備能夠產(chǎn)生不同電壓和能量等級(jí)的放電脈沖，并通過(guò)測(cè)試系統(tǒng)分析...

大功率探針臺(tái)是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)、電力電子、通訊設(shè)備研發(fā)與制造過(guò)程中的關(guān)鍵技術(shù)裝備之一，能夠精確模擬真實(shí)工作環(huán)境下器件的行為，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可...

在微電子制造和半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，探針臺(tái)是一種重要的精密設(shè)備。它主要用于芯片的電參數(shù)測(cè)試，在芯片開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程以及品質(zhì)控制中扮演著關(guān)鍵角色。...

高低溫探針臺(tái)作為一種重要的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，在科研和產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域中發(fā)揮著不可缺的作用。它能夠在惡劣的溫度條件下對(duì)材料、器件等進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)試和研究，為...