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產(chǎn)品中心
SD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HCTLP 測(cè)試機(jī)l 用于獲取器件保護(hù)電路的相關(guān)參數(shù)特性l 為器件升級(jí)提供支持，縮短產(chǎn)品周期l 提供普通和VF（非?？欤┬吞?hào)。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。l 具有半自動(dòng)探針臺(tái)整合功能的可選自動(dòng)測(cè)試可大大提高生產(chǎn)率。l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測(cè)試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出
SD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC
TLP 測(cè)試機(jī)
l 用于獲取器件保護(hù)電路的相關(guān)參數(shù)特性
l 為器件升級(jí)提供支持，縮短產(chǎn)品周期
l 提供普通和VF（非常快）型號(hào)。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。
l 具有半自動(dòng)探針臺(tái)整合功能的可選自動(dòng)測(cè)試可大大提高生產(chǎn)率。
l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測(cè)試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出型號(hào)（T5000-HC）。
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備
此設(shè)備是對(duì)保護(hù)電路的工作特性進(jìn)行模擬測(cè)試的設(shè)備
對(duì)集成電路里保護(hù)電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助
也可進(jìn)行VF-TLP測(cè)試
| 產(chǎn)品名/型號(hào) | 設(shè)備說(shuō)明 | 設(shè)備介紹視頻 |
|---|---|---|
 HED-T5000/ | 此設(shè)備配備了先進(jìn)的測(cè)試模式 | |
 HED-T5000-HC | 目前，對(duì)于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加 |
