一、射頻探針

RF晶片探針將沿同軸電纜傳播的電磁能轉(zhuǎn)換為晶片上DUT及其接觸墊。轉(zhuǎn)換必須以最小的失真和能量損失進(jìn)行。各種類(lèi)型的RF DUT之間存在顯著差異：從分立元件到在非常寬的頻率范圍內(nèi)工作的復(fù)雜IC。因此，RF探針技術(shù)必須支持各種頻率和間距以及各種配置。最后，探頭價(jià)格和探針頭壽命直接影響測(cè)試的DUT成本。當(dāng)然，后者必須保持盡可能低的水平。通過(guò)對(duì)當(dāng)今RF應(yīng)用所面臨的眾多挑戰(zhàn)的深刻理解，GP-RF探針，這是專(zhuān)為這些復(fù)雜應(yīng)用而優(yōu)化的產(chǎn)品系列，主要針對(duì)高級(jí)RF客戶(hù)的要求。GP探針利用高水準(zhǔn)的MEMS技術(shù)，在射頻測(cè)試領(lǐng)域提供新的技術(shù)和制造進(jìn)步。

二、校準(zhǔn)基板

商用探針RF校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)采用共面設(shè)計(jì)，包括不同類(lèi)型的校準(zhǔn)元件：開(kāi)路，短路，負(fù)載和線(xiàn)路。因此，可以執(zhí)行各種類(lèi)型的探針準(zhǔn)。

GP AC系列校準(zhǔn)基板專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)用于提供探針的精確探針校準(zhǔn)。校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)與探頭配置和間距尺寸相匹配。標(biāo)準(zhǔn)等效阻抗的模型參數(shù)定義了校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度，并以高精度提取。

三、射頻校準(zhǔn)軟件

在晶圓級(jí)射頻校準(zhǔn)和微波測(cè)量細(xì)節(jié)進(jìn)行詳細(xì)的了解芯測(cè)的長(zhǎng)期經(jīng)驗(yàn)，隨時(shí)為GP的射頻校準(zhǔn)軟件。我們旨在使RF系統(tǒng)校準(zhǔn)簡(jiǎn)單的復(fù)雜和繁瑣的任務(wù)。其多點(diǎn)觸控和多語(yǔ)言圖形用戶(hù)界面以及原始的NIST多線(xiàn)TRL校準(zhǔn)功能改變了晶圓級(jí)RF系統(tǒng)校準(zhǔn)。

四、射頻電纜和配件

RF測(cè)量的成功取決于整個(gè)系統(tǒng)的最佳配置。為了達(dá)到同類(lèi)最佳的系統(tǒng)性能，芯測(cè)提供了出色的柔性電纜，波導(dǎo)部分以及各種適配器，可用于完整的RF探頭系統(tǒng)集成。經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的扭矩扳手，探針平面化和清潔配件有助于長(zhǎng)時(shí)間保持系統(tǒng)測(cè)量性能達(dá)到高水平。

五、產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.MEMS技巧

探針精確制造，采用匹配的50ΩMEMS觸頭。憑借出色的探頭電氣特性（最小的插入損耗和串?dāng)_以及高回波損耗），它們可在最寬的頻率范圍內(nèi)確保的校準(zhǔn)和測(cè)量結(jié)果。

2.接觸結(jié)構(gòu)

與市場(chǎng)上的任何其他技巧不同，我們射頻探頭可提供觸點(diǎn)的出色和實(shí)時(shí)可見(jiàn)性。即使對(duì)于沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的操作員并且不使用探針對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記，RF探針在校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)或DUT墊上的高度精確定位也成為可能。

3.減少接觸探針

公司新型探頭型號(hào)的觸頭寬度減少了33％，降至20μm。行業(yè)趨勢(shì)使得我們進(jìn)一步降低RF器件和IC的焊盤(pán)尺寸，顯著降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的測(cè)試成本。它可以為Si器件獲得精確，可重復(fù)的測(cè)量結(jié)果，鋁焊盤(pán)金屬化尺寸小至30 x35μm。我們的探針采用GSG配置，探頭間距為50μm至150μm。

4.出色的使命壽命

探針技術(shù)強(qiáng)大的功能之一是其均勻的磨損：在數(shù)十萬(wàn)個(gè)探針循環(huán)后，探針的長(zhǎng)度自然縮小。然而，由于*的探頭設(shè)計(jì)，電氣特性保持不變。因此，探針的使用壽命優(yōu)于同類(lèi)探針技術(shù)的使用壽命，并以真正實(shí)惠的價(jià)格脫穎而出。