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  • 半自動(dòng)挑片分選機(jī) AP-810 Plus
    半自動(dòng)挑片分選機(jī) AP-810 Plus

    半自動(dòng)挑片分選機(jī) AP-810 Plus特點(diǎn) 視覺(jué)定位系統(tǒng),直線電機(jī)驅(qū)動(dòng):分揀精度高,速度快 AOI檢查系統(tǒng),挑片過(guò)程中檢查芯片外觀,自動(dòng)識(shí)別形貌 支持對(duì)三五族,MEMS以及具備空氣橋結(jié)構(gòu)芯片的挑選,支持MPW 提供設(shè)備功能、治具定制及服務(wù)

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:1197
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  • 全自動(dòng)晶圓挑片分選機(jī) AP-1800
    全自動(dòng)晶圓挑片分選機(jī) AP-1800

    全自動(dòng)晶圓挑片分選機(jī) AP-1800特點(diǎn):全自動(dòng)系統(tǒng)、視覺(jué)定位系統(tǒng),直線電機(jī)驅(qū)動(dòng):分揀精度高,速度快;AOI檢查系統(tǒng),挑片過(guò)程中檢查芯片外觀,自動(dòng)識(shí)別形貌;Bond Force Control支持對(duì)三五族,MEMS以及具備空氣橋結(jié)構(gòu)芯片的挑選,支持MPW提供設(shè)備功能、治具定制及服務(wù)。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:4425
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  • WBS-300全自動(dòng)芯片挑片分選機(jī)
    WBS-300全自動(dòng)芯片挑片分選機(jī)

    芯片分選機(jī),全自動(dòng)芯片挑片分選機(jī) WBS-300特點(diǎn):$n多功能全自動(dòng)挑片系統(tǒng),支持各類(lèi)挑片方式$n視覺(jué)定位系統(tǒng),直線電機(jī)驅(qū)動(dòng):分揀精度高,速度快$nAOI檢查系統(tǒng),挑片過(guò)程中檢查芯片外觀,自動(dòng)識(shí)別形貌$nBond Force Control$n支持對(duì)三五族,MEMS以及具備空氣橋結(jié)構(gòu)芯片的挑選,支持MPW$n提供設(shè)備功能、治具定制及服務(wù)

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):WBS-300訪問(wèn)量:1954
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  • 多功能全自動(dòng)芯片貼片固晶機(jī) TB-1000
    多功能全自動(dòng)芯片貼片固晶機(jī) TB-1000

    多功能全自動(dòng)芯片貼片固晶機(jī) TB-1000針對(duì)高標(biāo)準(zhǔn)的芯片貼裝應(yīng)用,提供高技術(shù)力的多功能貼片固晶系統(tǒng)以及高底定制化的方案服務(wù),尤其是對(duì)于超薄存儲(chǔ)芯片的堆疊裝片具有突出表現(xiàn)。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:1380
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  • 精密倒裝芯片貼片機(jī) CB-610
    精密倒裝芯片貼片機(jī) CB-610

    芯片分選機(jī),精密倒裝芯片貼片機(jī) CB-610特點(diǎn):$n Correspond to fine pitch of electrodes with mounting accuracy ± 1μm$n Correspond yo ultra-low load(0.049N)to high load (490N)without head replacement

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:1427
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  • 超高精度倒裝芯片貼片機(jī) CB-700
    超高精度倒裝芯片貼片機(jī) CB-700

    超高精度倒裝芯片貼片機(jī) CB-700特點(diǎn): ? Ultra-low load, high-accuracy bonding ? Real-time control is possible in the low load range. As a result, bump height variation become minimized.

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:1362
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  • 晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡
    晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡

    晶圓 2D/3D AOI 檢驗(yàn)顯微鏡進(jìn)料的wafer,經(jīng)過(guò)正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查,進(jìn)行檢查和分選。操作員不接觸wafer,避免了污染和損傷wafer。

    更新時(shí)間:2024-11-07型號(hào):訪問(wèn)量:1590
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  • 切割機(jī)
    切割機(jī)

    公司已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測(cè)試領(lǐng)域的品牌廠商簽訂合作。這些品牌包括:切割機(jī),探針臺(tái)系統(tǒng)制造商MPI;世界微波組件和測(cè)試系統(tǒng)制造商MAURY;測(cè)量?jī)x器制造商KEYSIGHT;的模型服務(wù)商Modelithics;EDS設(shè)備日本 HANWA和TOTOKU等。

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